(주)에머릭스

알림

VISION TEST	패턴 매칭으로 역삽, 오삽과 미삽을 검출
VI IMPEDANCE TEST	전원을 인가하지 않은 상태에서 VCF 를 조합하여 측정 및 불량을 검출
OPEN & SHORT TEST	회로의 단락과 단선을 측정하여 불량을 검출
IN-CIRCUIT MEASUREMENT	부품별 다양한 용량 값을 측정, 간이 ICT (인서킷테스트) 기능을 지원
VOLTAGE TEST	제품 전원부와 커넥팅 방식을 통하여 전원을 인가하고 각 테스트 포인트와 포인트 간의 전압 측정을 통하여 전원 불량을 검출 (협의 필요)
CURRENT TEST	인가된 전원의 전류 변화 량을 확인하여 전원 불량을 식별 (협의 필요)

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VI IMPEDANCE TEST	전원을 인가하지 않은 상태에서 VCF 를 조합하여 측정 및 불량을 검출
OPEN & SHORT TEST	회로의 단락과 단선을 측정하여 불량을 검출
IN-CIRCUIT MEASUREMENT	부품별 다양한 용량 값을 측정, 간이 ICT (인서킷테스트) 기능을 지원
VOLTAGE TEST	제품 전원부와 커넥팅 방식을 통하여 전원을 인가하고 각 테스트 포인트와 포인트 간의 전압 측정을 통하여 전원 불량을 검출 (협의 필요)
CURRENT TEST	인가된 전원의 전류 변화 량을 확인하여 전원 불량을 식별 (협의 필요)

	오토모티브 PCBA 검사		반도체 패키징 검사		철도 PCBA 검사		의료기기 PCBA 검사		가전 PCBA 검사
	체계정비 및 항공 PCBA 검사		선박 PCBA 검사		산업기기 PBCA 검사		배터리 전압 검사		모바일 PCBA 검사